Beispiel 4: getestet, getestet, getestet! CF98 mit < 4xd!

Für Anwender von sehr kleinen Energieführungsketten und den damit verbundenen meist sehr engen Biegeradien, hat sich in der Vergangenheit die Frage nach der geeigneten Leitung bei oft sehr hohen Hubzahlen gestellt.

Kupfer gerät bei Biegeradien von unter 5xd schnell anseine physikalischen Grenzen, wodurch die Suche nachgeeigneten Ersatzleiterwerkstoffen, oder grundsätzlichanderen Leiteraufbauten, notwendig wurde.

Testreihen mit verschiedenen Leiteraufbauten und Werkstoffen sollten Klarheit darüber liefern, wie Leitungen gefertigt werden müssen, die auch bei unter 4xd Biegeradius sicher mehrere Millionen Biegungen in e-ketten® standhalten können.

Versuchsaufbau: Horizontaler kurzer Verfahrweg

Versuchsparameter

Verfahrweg:

S = 0,8 m

Geschwindigkeit ca.:

V = 1,5 m/s

Beschleunigung ca.:

a = 0,5 m/s2

Radius ca.:

18 mm

Versuch 1:

Untersuchung von vier verschiedenen Leitungskonstruktionen
Untersucht wurden vier verschiedene Leitungskonstruktionen:

Prüfling A – Leiter mit spezieller Leiterlegierung,
Prüfling B – Leiter wie Prüfling A, jedoch in Kupfer,
Prüfling C – Leiter in Geflechtaufbau,
Prüfling D – Leiter in Seilkonstruktion.

Diese Langzeituntersuchung, die über 2 Jahre durchgeführtwurde, brachte folgende Ergebnisse:

Versuch 2:

Untersucht wurden zwei verschiedene Leitungskonstruktionen,wobei gegenüber Versuch 1 andere Aderzahlen und Querschnittegewählt wurden:
Prüfling A – Leiter mit spezieller Leiterlegierung
Prüfling B – Leiter in Kupfer

Hierbei wurde Prüfling B bis auf den Leiterwerkstoff absolutidentisch zu Prüfling A gefertigt. Der Versuch ergab, dass beiPrüfling A selbst nach 28 Mio. Doppelhüben kein Einzeldrahtbruchfeststellbar war. Prüfling B hingegen erreicht nurca. 1,4 Mio. Doppelhübe bis eine völlige Zerstörung des Leitersfestgestellt wurde.
Wie dieser Versuch hierbei auch zeigt, übertrifft das Legierungskonzeptdie Lebensdauer des Kupferleiters um das19fache und das gerade in dem besonders mechanisch kritischenBereich der sehr kleinen Querschnitte!

Anzahl der
Doppelhübe

Querschnitt

d [mm]

Testradius

Prüfling A

31.268.000

7x0,20

5,8

3,1xd = 18

Prüfling B

450.000

7x0,20

5,6

3,2xd = 18

Prüfling C

638.000

7x0,25

7,3

2,5xd = 18

Prüfling D

2.350.000

7x0,25

7,3

2,5xd = 18

Anzahl der
Doppelhübe

Querschnitt

d [mm]

Testradius

Prüfling A

28.267.000

2x0,14

3,9

4,6xd = 18

Prüfling B

1.450.000

2x0,14

2,9

6,2xd = 18

Leitfähigkeit von Legierungen

Die hervorragenden mechanischen Eigenschaften der Legierunggehen jedoch einher mit einer reduzierten Leitfähigkeitgegenüber Kupfer, die mit leicht erhöhten Querschnittenausgeglichen wird. Somit entsprechen die im Katalogaufgeführten Querschnitte den elektrisch definierten Querschnitten,die über den Leitwert definiert sind. Der Leiterdurchmesserdes legierten Leiters steigt gegenüber demLeiterdurchmesser einer Kupferleiters leicht an.

Aus diesem Kompromiss ergeben sich zwar ca. 10% größereAußendurchmesser für die CF98-Serie gegenüber einervergleichbaren CF9-Type, jedoch sprechen die zu erwartendenLebensdauerdifferenzen der CF98 gegenüber derCF9 für sich, und steigen im Vergleich zu anderen sogenanntenkettentauglichen Leitungen um ein Vielfaches an.

Weitere Merkmale der Chainflex CF98 sind, wie bei derCF9-Serie der hochabriebfeste, zwickelfüllend extrudierteTPE-Außenmantel, die Öl- und UV-Beständigkeit sowie diePVC- und Halogenfreiheit.

Besonders in Einsatzbereichen, die nur über geringen Bauraumverfügen, aber eine hohe Zahl an Hüben verlangen,bietet die igus®-Leitung eine erhöhte Betriebssicherheit.Einsatzbereiche sind in der Halbleiter- und Bestückungsindustrie,der Automationsbranche sowie im AutomotivundBankenbereich gegeben. Neue Einsatzmöglichkeitenergeben sich dabei in Automatiktüren für Fahrzeuge undBahnen sowie in automatischen Food-Selbstbedienungsautomatenund der Verpackungsindustrie.

Mehr Informationen zu Chainflex® Leitungen

Das Fehlerlexikon für Kabel & Leitungen - Standzeiten↓ und Lebensdauer↑

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